Rezultati pretraživanja

Na upit UncontrolledTerms_swish=(analiza elektrona i iona ) pronađeno je 1 rezultata ...

Sortiraj prema: autoru, naslovu, autoru i naslovu, naslovu i autoru

1
ISBN:0-306-20820-7
Naslov:Practical scaning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / J.I. Goldstein...<et al.> ; Edited by Joseph I. Goldstein, Harvey Yakowitz
Izdanje:3th printing
Impresum:New York, <etc.> : Plenum press , <1977>
Materijalni opisi:xviii, 582 str. : ilustr. ; 24 cm
Napomena:Bibliografija iza svakog poglavlja
Tema:elektronska mikroskopija, (scanning) * elektronska optika * analiza elektrona i iona * mikrouzorkovanje * x-ray analiza * stručne knjige
Signatura:ENG 2501
Lokacija:Stručna knjižnica Željezare Sisak
ID:810629001
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Željezara Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/
1